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產(chǎn)品大類
日本日置阻抗分析儀IM3570
- 儀器名稱:阻抗分析儀
- 儀器品牌:日本日置
- 儀器型號(hào):IM3570
- 送貨時(shí)間:48小時(shí)內(nèi)
- 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格:不詳
- 本站售價(jià):洽詢
- 關(guān)鍵參數(shù):新產(chǎn)品的特點(diǎn) 1.不同測(cè)量條件下,1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量 測(cè)量電容等零部件時(shí),有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目,1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量儀器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量,1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。 2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比) 和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比,大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下,以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間,而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,IM3570發(fā)揮了作用。 3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ,100次測(cè)量時(shí)) 功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí),要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位,因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。
性能參數(shù)介紹
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產(chǎn)品介紹 阻抗分析儀IM3570 研發(fā)背景 IM3570將用于線圈、電容、壓電元件等電子零部件生產(chǎn)線上的檢查,另外還適用于大學(xué)和企業(yè)研究部門的開發(fā)方面。 阻抗分析儀是什么? 阻抗分析儀是以讓測(cè)量頻率和測(cè)量電壓連續(xù)變化的同時(shí),掃描測(cè)量被測(cè)物的特性為主要功能??捎糜谌缇€圈、變壓器、電容、壓電元件的開發(fā)和檢查等用途中。因此,阻抗分析儀對(duì)于復(fù)蘇中的電子零部件市場(chǎng),可以說是不可欠缺的測(cè)量儀器。 ※阻抗:交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。 新產(chǎn)品的特點(diǎn) 1.不同測(cè)量條件下,1臺(tái)進(jìn)行高速測(cè)量 測(cè)量電容等零部件時(shí),有時(shí)在不同條件下(頻率、電平)測(cè)量多種測(cè)量項(xiàng)目,1條生產(chǎn)線中需要多臺(tái)測(cè)量儀器。IM3570可再不同測(cè)量條件下進(jìn)行高速連續(xù)測(cè)量,1臺(tái)儀器即可滿足所有要求。 2.檢查速度提高了2倍(跟以往型號(hào)相比) 和HIOKI的以往型號(hào)(3532-50)相比,大大縮短了測(cè)量時(shí)間。LCR模式下,以往機(jī)型一般需要5ms的測(cè)量時(shí)間,而IM3570的檢查速度提高了2倍。需要全數(shù)檢查電子零部件的生產(chǎn)線中,IM3570發(fā)揮了作用。 3.測(cè)量的反復(fù)精度提高了1位(※1mΩ,100次測(cè)量時(shí)) 功能性高分子電容在推進(jìn)低ESR化的同時(shí),要求正確測(cè)量多個(gè)mΩ。IM3570在測(cè)量低阻抗時(shí)的精度比以往機(jī)型提高了1位,因此為用戶提供穩(wěn)定測(cè)量。 4.廣范圍的測(cè)量頻率 IM3570可在DC和4Hz~5Hz的范圍內(nèi)設(shè)置5位分辨率的頻帶(1kHz以下為0.01Hz分辨率)??稍诮咏舱耦l率的測(cè)量和工作條件的狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)量和評(píng)價(jià)。 5.15種測(cè)量參數(shù) 可測(cè)量Z、Y等15種參數(shù),并將需要的參數(shù)讀取至計(jì)算機(jī)中。 6.具備防止誤操作的接觸檢查功能 裝載了4端子測(cè)量、2端子測(cè)量的接觸檢查功能。防止在測(cè)量電極不接觸被測(cè)物的狀態(tài)下測(cè)量的情況,因此可以避免出現(xiàn)未檢查的產(chǎn)品出廠。 7.廣范圍的測(cè)量電壓/電流 外加一般的開路信號(hào)發(fā)生,可在恒壓/恒流模式下進(jìn)行考慮到電壓/電流依存性的測(cè)量??稍O(shè)置廣范圍的、5mV~5V/10μA~50mA(~1MHz)以下的測(cè)量信號(hào)電平。 8.8. 測(cè)試線可延長至 4端子的構(gòu)造可降低測(cè)試線的影響,測(cè)試線長達(dá) IM3570的主要參數(shù) 測(cè)量模式 LCR模式:單一條件下測(cè)量 測(cè)量參數(shù) Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q 測(cè)量量程 100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數(shù)都根據(jù)Z來確定) 基本精度 Z:±0.08%rdg. θ:±0.05° 測(cè)量頻率 4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步進(jìn)) 測(cè)量信號(hào)電平 普通模式: 輸出阻抗 普通模式:100Ω 顯示 彩色TFT5.7英寸,可設(shè)置顯示開或關(guān) 顯示位數(shù)設(shè)置 可設(shè)置3~7位的顯示位數(shù),初始值為6位 測(cè)量時(shí)間 0.5ms(100kHz、FAST、顯示關(guān),代表值) 測(cè)量速度 FAST/MED/SLOW/SLOW2 DC偏壓測(cè)量 普通模式:DC0V~2.50V(10mV步進(jìn)) 直流電阻測(cè)量 普通模式:測(cè)量信號(hào)電平 比較器 LCR模式:第1、第3項(xiàng)目的Hi/IN/Lo 存儲(chǔ)功能 主機(jī)可保存32000個(gè)數(shù)據(jù) 接口 EXT I/O(handler) 電源 AC90~264V,50/60Hz,最大150VA 體積和質(zhì)量 約330W×119H×307Dmm,約5.8kg 電源標(biāo)準(zhǔn) 標(biāo)準(zhǔn)配置 標(biāo)準(zhǔn)配套 可選附件 標(biāo)準(zhǔn)證書
分析儀模式:
根據(jù)測(cè)量頻率、測(cè)量電平進(jìn)行掃描
(測(cè)量點(diǎn):1~801,掃描方法:一般掃描/分區(qū)掃描,顯示:列表顯示/圖表顯示)
連續(xù)測(cè)量模式:
連續(xù)測(cè)量保存的條件(最多32個(gè))
V模式、CV模式:5mV~5Vrms(1MHz以下),
10mV~1Vrms(1MHz~5MHz),1mVrms步進(jìn)
CC模式:10μA~50mArms(1MHz以下)
10μA~10mArms(1MHz~5MHz),10μArms步進(jìn)
低阻抗高精度模式:
V模式、CV模式:5mV~1Vrms(100kHz以下),
1mVrms步進(jìn)
CC模式:10μA~100mArms(100kHz以下的100mΩ和1Ω量程),
10μArms步進(jìn)
低阻抗高精度模式:10Ω
低阻抗高精度模式:DC0V~1.00V(10mV步進(jìn))
DC100mV~2.5V(10mV步進(jìn))
低阻抗高精度模式:測(cè)量信號(hào)電平
DC100mV~1.00V(10mV步進(jìn))
分析模式:
區(qū)域判斷(各點(diǎn)的Hi/IN/Lo)、
峰值判斷(極大、極小的頻率和絕對(duì)值的Hi/IN/Lo)
RS
GP-IB
USB(Hi-Speed/Full-Speed)
U盤
LAN(10BASE-T/100BASE-TX)